交變濕熱模擬環(huán)境老化試驗箱也稱恒溫恒濕試驗機、恒溫恒濕實驗箱、可程式濕熱交變試驗箱、高低溫試驗箱,用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質(zhì)量之用。

產(chǎn)品用途:

1.高低溫試驗箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗;

2.高低溫控制箱是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備;

3.高低溫濕熱交變試驗箱特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫循環(huán)試驗。

交變濕熱模擬環(huán)境老化試驗箱符合標準：

1、GB/11158-2008《高溫試驗箱技術(shù)條件》;

2、GB/T10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》;

3、GB/T5170.2-2008《溫度試驗設(shè)備》;

4、GB/T5170.5-2008《溫熱試驗設(shè)備》;

5、GB/T2423.1-2008 ( IEC60068-2-1 : 2007)《試驗Ab:低溫試驗方法》;

6、GB/T2423.2-2008 ( IEC60068-2-2: 2007) 《試驗Bb:高溫試驗方法》;

7、GB/T2423.3-2008 ( 1EC60068-2-2; 2007) 《試驗Ca:恒定濕熱試驗》; 

8、GB/T2423.4-2008 ( IEC60068-2-2: 2007) 《試驗Bb:交變濕熱試驗》;

9、GJB150.3A-2009 ( MIL-STD-810F- 2000)《高溫試驗》;

10、GJB1 50.4A-2009 ( MIL-STD-81 0F- 2000 )《低溫試驗》;

11、GJB150.9A-2009 ( MIL-STD-810F- 2000 )《濕熱試驗》。